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高分子材料老化、探傷、LED紫外光源，圖解藝術、積體電路光刻、光化學匹配，測量範圍：0-400 mW/cm2，四檔位測量；400μW檔，4000μW檔,40mW檔，400mW檔（1000 μW/cm2 = 1 mW/cm2）探測器的光譜：370nm 到470nm（峰值420nm,50%以上透過率波段395 nm到450 nm）
